Backcross Breeding with RAPD Molecular Markers to Enhance Resistance to Common Bacterial Blight in Pinto Beans

MUTLU N.

-, Amerika Birleşik Devletleri, cilt.3, sa.453, ss.34

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Cilt numarası: 3
  • Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
  • Sayfa Sayıları: ss.34
  • Akdeniz Üniversitesi Adresli: Evet